Wissenschaftliche(r) Mitarbeiter(in) (TVL 13) – Einfluss Materialdefekte auf SiC-Leistungshalbleiterbauelemente
Das Unternehmen Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg bietet aktuell diesen Job in Erlangen an. Wenn Du gerade auf der Suche in dem Bereich Wissenschaft bist,
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Der Lehrstuhl für Elektronische Bauelemente sucht eine/n engagierte/n wissenschaftliche/n Mitarbeiter/in.
Ihre Aufgaben
- Technisch-wissenschaftliche Bearbeitung eines Forschungsprojekts zum Einfluss von Materialdefekten auf die Ausbeute und das Ausfallverhalten von SiC-Bauelementen, beinhaltend:
- Untersuchung von Degradationsvorgängen in SiC-Bauelementen und des sich daraus ergebenden Einflusses auf die Zuverlässigkeit - Untersuchung von Materialdefekten, u.a. in in SiC-Substraten, epitaktischen Schichten, Oxidschichten und Metallkontakten anhand physikalischer und elektrischer Charakterisierungsmethoden, z.B. mittels Röntgentopographie, Photolumineszenz, Kapazitäts-Spannungsmessungen, … - Modellbildung zur Beschreibung des Einflusses der Materialdefekte auf die Ausbeute und das Ausfallverhalten der Bauelemente
- Berichterstellung und Präsentation von Ergebnissen in Projekttreffen sowie auf nationalen und internationalen Konferenzen
Ihr Profil
Notwendige Qualifikationen:
- Abgeschlossenes Hochschulstudium aus dem Bereich Elektrotechnik, Elektronik, Informationstechnik, Nanotechnologie, Mechatronik oder Physik bzw. bzw. einer vergleichbaren Fachrichtung
- Selbständige Arbeitsweise, Eigeninitiative, Teamfähigkeit
- Kenntnisse auf dem Gebiet von Halbleiterbauelementen
Wünschenswerte Qualifikationen:
- Erfahrungen im Bereich physikalischer Halbleitercharakterisierungsmethoden
- Erfahrungen im Bereich elektrischer Halbleiter- und Bauelementemesstechnik
Stellenzusatz
Befristetes Forschungsvorhaben
Der Lehrstuhl für Elektronische Bauelemente befasst sich mit der angewandten Forschung in den Bereichen Technologie und Fertigung elektronischer Bauelemente. Forschungsschwerpunkte des Lehrstuhls liegen bei der Entwicklung, Charakterisierung und Simulation neuer Herstellungsverfahren und Bauelemente sowie bei der Entwicklung und Optimierung von Anlagen und Materialien für die Mikro- und Nanoelektronik. Ein Schwerpunkt der Arbeiten liegt im Bereich der Entwicklung und Charakterisierung von Leistungshalbleiterbauelementen auf Basis von Siliciumcarbid (SiC).
Veröffentlichungsdatum: 14.02.2024,